目次
1绪论..1
1.1课题背景..1
1.2研究现状..1
1.3本论文的主要工作和内容安排..3
2.同步移相干涉所涉及的各种原理.4
2.1移相干涉测量技术4
2.2同步移相干涉的基本原理6
2.3相位解包..9
2.4干涉图配准算法.11
2.5本章小结.13
3.Fizeau型同步移相干涉系统概述14
3.1Fizeau型同步移相干涉系统框架概述.14
3.2光源系统.15
3.3偏振干涉系统15
3.4分光系统.15
3.5移相系统.16
3.6本章小结.16
4.同步移相干涉测试软件的设计与开发..17
4.1数字图像处理技术概述.17
4.2同步移相测试软件开发.18
4.3本章小结.31
结论..32
致谢..33
参考文献34
1 绪论 1.1 课题背景 利用光干涉方法来检测高精密光学元件和系统是我们经常使用而且行之有效的方案之一源`自*吹冰~文·论^文`网[www.chuibin.com。现在的科技逐步发展,激光技术,精密机械技术,计算机图像处理技术,光电探测技术等技术也逐步完善,所以导致近代利用光干涉方法来测量精密光学元件的技术得到了长足的发展。 在1974年Burning等人在光学干涉测量技术中引用了通论理论中的相位探测技术,从而提出了一种高精度的移相干涉技术[1]。 这种技术采用了数学波面相位检测技术,因此可以进行实时、快速、自动化、多参数、高精度测试,进而大大扩展干涉仪的测量功能,提高了现代光学制造的水平[2]。 移相干涉技术这种光学测量方式有好多优点:例如高灵敏度、高精度、非接触式等等。但是它同样有好多缺点,例如对于环境的要求比较高,环境的震动会影响移相同步干涉测量的精度,是产生误差的主要原因之一。对此,一代一代的科学探测者提出了很多有效并且实用的测量方法。这些方法中主要有一种空间同步移相 Fizeau 型动态干涉仪,可以在同一时间采集四幅移相干涉图,进而消除由于振动给干涉测量带来的影响。