基于I2C总线的存储系统设计+源代码+原理图(7)
P5.2/SOMI1 46 I/O 通用数字I/O引脚/USART1的从输出、主输入或SPI模式
P5.3/UCLK1 47 I/O 通用数字I/O引脚/从机发送使能——USART1/UART或SPI模式，时钟输出——USART1/SPI模式
P5.4/MCLK 48 I/O 通用数字I/O引脚/主系统时钟MCLK输出
P5.5/SMCLK 49 I/O 通用数字I/O引脚/子系统时钟SMCLK输出
P5.6/ACLK 50 I/O 通用数字I/O引脚/辅助时钟ACLK输出
P5.7/TBoutH 51 I/O 通用数字I/O引脚/切换所有的PWM数字输出口为高阻抗——定时器B_3 TB0～TB2
P6.0/A0 59 I/O 通用数字I/O引脚/12位A/D转换器模拟输入通达0
P6.1/A1 60 I/O 通用数字I/O引脚/12位A/D转换器模拟输入通达1
P6.2/A2 61 I/O 通用数字I/O引脚/12位A/D转换器模拟输入通达2
P6.3/A3 2 I/O 通用数字I/O引脚/12位A/D转换器模拟输入通达3
P6.4/A4 3 I/O 通用数字I/O引脚/12位A/D转换器模拟输入通达4
P6.5/A5 4 I/O 通用数字I/O引脚/12位A/D转换器模拟输入通达5
P6.6/A6 5 I/O 通用数字I/O引脚/12位A/D转换器模拟输入通达6
P6.7/A7 6 I/O 通用数字I/O引脚/12位A/D转换器模拟输入通达7
非RET/NMI 58 I 复位输入/不可屏蔽中断输入口，或自动加载程序启动（FLASH版本器件有此功能）
TCK 57 I 测试时钟，TCK是用于器件测试与自动加载程序启动的时钟输入接口（FLASH版本器件有此功能）
TMS 56 I 测试方式选择，器件编程与测试的输入口
TDI 55 I 测试数据输入口，器件的保护熔丝被连接到TDI
TDO/TDI 54 I/O 测试数据输出口/编程数据输入口
Veref+ 10 I/O 送到模数转换器ADC12的外部基准电压
Vref+ 7 O 送到模数转换器ADC12的内部基准电压的正输入端
Vref-/Veref- 11 O 送到模数转换器ADC12的内部基准电压或外部加的基准电压负端
XIN 8 I 晶体振荡器XT1的输入口
XOUT/TCLK 9 I/O 晶体振荡器XT1的输入口或测试时钟的输入口
XT2IN 53 I 晶体振荡器XT2的输入口，只能接标准晶体
XT2OUT 52 O 晶体振荡器XT2的输出口
AVcc 64 模拟电源的正输入端，送到模数转换器ADC12的模拟部分
AVss 62 模拟电源的负输入端，送到模数转换器ADC12的模拟部分
DVcc 1 数字电源的正输入端
DVss 63 数字电源的负输入端
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