2.5.2场发射扫描电镜(FESEM)
FESEM测量使用场发射扫描电子显微镜 (Supra 55, Carl Zeiss SMT Pte. Ltd.),将粉状样品放置在导电膜中,且加速电压为2kV。
2.5.3氮吸附分析
氮吸附测量在77K下的奥纳康塔AUTOSORB-1-C自动气体吸附装置中进行,比表面积通过Brunauer–Emmett–Teller方程计算,孔径分布通过DFT法计算。
2.5.4紫外可见光谱
用2g环己烷稀释20μL HAuCl4/SiO2或Au/SiO2 NCPs分散液。使用UV-2450紫外-可见分光计(Shimadzu制作公司)记录350-700nm处的紫外可见光谱。
2.5.5 X射线衍射
使用XRD 对样品进行相分析,使用的X射线衍射装置是具有Bragg-Brentanoθ-2θ结构的Bruker D8 Advance型装置,发电机是以铜作为阳极的高功率衍射管,并且是在1.6kW的工作电源下操作(40kV,40 mA)的。使用Cu Kα辐射(λ=1.5418Å)进行衍射扫描,分别以0.0195◦的分辨率从20◦扫描到90◦;用于X射线衍射的粉末样品放置在聚合物样品架中。
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