图1。1 薄壁式圆筒切削测力仪

图1。2薄壁圆筒式切削测力仪应变片位置分布示意图

  （2）压电式测力仪

   压电式测力仪利用压电晶体的压电效应为主要的测量原理，将压电晶体制造成具有压电效应的石英晶片，不同切型的晶片测量的力有所不同，其中X0切向的晶片用于测量轴向力，Y0切型可用于测量切向力，而扭矩可用“力×力臂”的方法求得，因此用压电测力仪测扭矩就是测其切向力与力臂。来-自~优+尔=论.文,网www.chuibin.com +QQ752018766-

例：Kistler 公司研发的93-c系列压电测力仪，如图1。3所示：

图1。3 Kistler 9347c三向压电式传感器

  （3）压阻式测力仪

   半导体的压阻效应：当半导体材料受到应力作用时，其电阻率会产生较明显变化，结合压阻效应与欧姆定律，可以得出如下关系式：

                    （1。3）

其中，L为压阻材料的长度，单位：mm；A为材料的截面积的大小，单位：mm2:；表示电阻率的大小，单位为：；为泊松比；E表示材料的弹性模量，单位为；与材质有关，是压阻系数；K与灵敏系数有着密切关系。

    压阻式应变片的优点在于其灵敏度非常高，约为电阻应变片的50-100倍，因此，在某些情况下，不需要用放大器即可进行工作。