3.4    C#生成表    21
3.5    数据库表的增加    22
3.6    数据库表的删除    23
3.7    数据库表的查询    24
4    结论    26
致谢    27
参考文献    28
附录:    29
1    绪论
现代社会是一个飞速发现的信息时代,大多数行业也越来越离不开信息的处理,计算机被普遍的使用,信息管理系统也开始受到广泛的运用,在学校里,在公司里,在商场里,甚至在工厂里都能看见信息管理系统的身影。计算机对信息系统的控制,提高了我们的工作效率,也提高了信息的安全性,而对于繁杂又庞大的数据信息,更是为我们带来了很多的方便快捷,充分的体现了信息管理系统的优越性。系统的开发,是对信息系统管理的前提,所以本文设计的系统就是对Gamma能谱特征峰在软件运行时动态建立数据库。
1.1    能谱仪简介
能谱仪的全称为能量分散谱仪(EDS, Energy Dispersive Spectrometer)是用来对材料微区成分元素种类与含量分析,配合扫描电子显微镜与透射电子显微镜的使用。能谱仪主要是由探测器、脉冲幅度分析器和记录显示电路三个部分组成。各种元素具有自己的X射线特征波长,特征波长的大小则取决于能级跃迁过程中释放出的特征能量△E,能谱仪就是利用不同元素X射线光子特征能量不同这一特点来进行成分分析的。工作时,探测器将不同能量的射线变成相应幅度的电脉冲,并加以放大。放大的脉冲送到脉冲幅度分析器加以分离,然后由记录显示电路记录。目前最为常用的是Si(Li)X射线能谱仪,其关键部件是Si(Li)检测器,就是锂漂移硅固态检测器,它实际上就是一个以Li为施主杂质的n-i-p型二极管。
1.1.1    能谱仪的优点
(1)    分析速度快
能谱仪可以同时接受和检测所有不用能量的X射线光子信号,故可以在短短几分钟内分析和确定样品中含有的所有元素,带铍窗口的探测器可以探测的元素范围为11Na~92U,20世纪80年代推向市场的新型窗口材料可使能谱仪能够分析Be以上的轻元素,探测元素的范围为4Be~92U。
(2)    灵敏度高
X射线手机立体角大。由于能谱仪中Si(Li)探头可以放在离发射源很近的地方(10cm左右),无需经过晶体衍射,信号强度几乎没有损失,所以灵敏度高(可以达到104cps/nA,入射电子束单位强度所产生的X射线计数率)。此外,能谱仪可以在低入射电子束流(10-11A)条件下工作,这有利于提高分析的空间分辨率。
(3)    谱线重复性好
由于能谱仪没有运动部件,稳定性好,而且没有聚焦要求,所以谱线峰值位置的重复性好且不存在失焦的问题,适合于比较粗糙表面的分析工作。
1.1.2    能谱仪的缺点
(1)    能量分辨率低,峰背比低
由于能谱仪的探头直接对着样品,所以由背散射电子或X射线所激发产生的荧光X射线信号也被同时检测到,从而使得Si(Li)检测器检测到的特征谱线在强度提高的同时,背底也相应提高,谱线的重叠现象严重,故仪器分辨不同能量特征X射线的能力变差。能谱仪的能量分辨率(130eV)比波谱仪的能量分辨率(5eV)低。
(2)    工作条件要求严格
Si(Li)探头必须始终保持在液氦冷却的低温状态,即使是在不工作的时候也不能中断,否则晶体内Li的浓度分布状态就会因为扩散而起变化,导致探头功能下降,甚至完全被破坏。
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