干涉滤光片光谱透过率测试技术研究(2)
致 谢 38
参考文献39
1 绪论
1.1 研究的意义和目的
随着科学技术的发展进步，出现了很多新的检测技术，而作为其中之一的光电检测技术是光学与电子学技术相结合而产生的，它是利用电子学对光学信息进行检测，并进一步储存、传递、计算和显示。由于它与被测物体不需要直接接触，具有检测精度高、速度快，而且能够连续自动化检测，同时它具有寿命长、信息容量大等优点，并且在各个科学部门以及经济建设的各行业中得到了广泛应用和迅猛发展，而且基于光电检测技术的光电设备在各个领域同样得到大范围的应用，如环境保护、冶金、石油化工、地质勘测、医药卫生等部门，在军事侦查、资源探测、探索宇宙等方面也得到大面积范围的使用[1]。但是因为原有的技术条件比较落后，满足不了对系统性能有关参数的测试技术的要求，基于这个大背景下，对干涉滤光片的透过率的研究就变得很有意义。
1.2 国内外研究现状
1.2.1 国内研究现状
1.2.2 国外研究现状
1.3 研究背景
对于光学系统，衡量一个光学系统好坏的重要标准的性能指标有色差、成像质量、透过率、放大倍数、像差、分辨率等，其中光学系统的透过率就是其中重要一项。光学元器件所携带的污物和存在气泡等造成的散射以及光学元器件的反射和吸收都是影响透过率的主要原因。光学系统的透过率大小直接影响物体在光学系统中像的亮度大小，从而对人们观察像在成影响，同时它也反应了光通过光学系统后光能量的损失情况。如果光学系统的透过率较小的话，造成进入人眼的光通量也会相应变小，所以主观亮度也会相应降低，同时目视锐度和观察物体的分辨率同样也会降低，不利于人们对远处物体的观察。所以光学系统的透过率和光学传递函数具有同等意义的地位，对其进行相关测试也非常重要。
本课题来源于实际使用。在紫外和微光探测及成像系统，尤其是日盲紫外探测系统中，为过滤信号背景中干扰辐射，必不可免的要使用滤光片。所使用的滤光片往往是由生产厂商在滤光片出厂时会进行相关性能参数的标定，这个参数直接影响后续工作的使用，必须进行复测；随着科技的发展，对透过率精度的测量越来越高，在一般生产研究中所使用的分光光度计所测量的精度较低，已经慢慢地不能满足要求。基于这个背景下，本论文重新搭建一个滤光片光谱透过率测试系统，完成对滤光片光谱透过率的测量。
1.4 本文的主要研究内容
在阅读相关文献资料后，本文对干涉滤光片的光谱透过率测试技术研究工作的主要内容如下：
（1） 了解滤光片及其光谱透过率有关的发展和应用，并简单介绍国内外对光学器件及系统光谱透过率的研究现状。
（2） 熟悉干涉滤光片及其光谱透过率测试的原理，并在此基础上，找出适合本课题的光谱透过率测试的方法。
（3） 设计了基于单色仪和光功率计的干涉滤光片的光谱透过率测试系统，并对系统整体结构、相关硬件仪器设备和配套软件进行了详细的介绍。
（4） 利用中性衰减片和干涉滤光片对系统进行了调试，并完成了滤光片光谱透过率测试实验，利用程序采集获得的光功率数据，计算得到滤光片光谱透过率，并将透过率数据与厂商提供数据进行比对分析，从而完成滤光片光谱透过率的复测。
2 干涉滤光片光谱透过率相关介绍
2.1 干涉滤光片理论基础
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