图 6.1 三文精密工作台及其控制系统实物图
6.2.三文精密工作台的调试
整合完成后,对三文精密工作台进行整机调试,以验证三文精密工作台的运
动精度是否符合设计要求。
三文精密工作台在应用于基因芯片点样时,Z 轴运动的作用是调节点样头的
高度,对运动精度要求不高;而 X 轴和 Y 轴的运动精度是影响点样头与孔板在水
平面内相对位置的关键因素,因此,本文中三文精密工作台的调试是指对 X 轴和
Y 轴的运动精度进行调试。
图 6.2所示为三文精密工作台的 X 轴和 Y 轴运动精度调试示意图,在实验过
程中,高精度标尺固定于工作台面上并与台面一起运动, CCD显微镜放置在标
尺的正上方用于观察工作台面的运动情况。