基于STM32的信号存储测试系统设计
利用了直流信号和正弦交流信号分别对系统进行了测试，结合信号分析及调理算法，可以较为正确的反映实际被测信号。
关键词 STM32微控制器 存储测试技术 串行flash存储器 内触发
毕 业 论 文 外 文 摘 要
Title Design of storage-measurement System based on STM32 Microcontroller
Abstract
For the problem of measuring related parameters in the barrel,a storage test system with internal trigger function is designed using stroage test technology.The workflow ,the designs of software and hardware circuit are introduced in details.The storage test system using STM32 microcontroller as its hardware base,together with serial flash memory chip,achieves the function of measuring and storing signals.The system can record the signals with the given sampling frequency.When the measured signal meets the requirement of internal trigger,the system can calculate the address of the trigger signal in the flash memory chip,and continue measuring until the memory space is full.After recycling,signals stored in any part of the memory space can be read and display through the host computer.
DC signal and sinusoidal AC signal are used to test the system.Combined with signal analysis and conditioning algorithm ,actual measured signal can be reflected well.
Keywords STM32 microcontroller stroage test technology
serial flash memory chip internal trigger
目 录
1 引言 1
1.1 课题的背景与意义 1
1.2 国内外发展状况 1
1.3 主要工作和论文内容安排 3
2 存储测试系统的总体设计 4
2.1 总体结构 4
2.2 本章小结 6
3 存储测试系统的硬件设计与实现 6
3.1 STM32F103xx系列微控制器 7
3.2 测量电路部分 9
3.3 存储电路部分 10
3.4 供电电路部分 12
3.5 上位机接口电路部分 16
3.6 本章小结 17
4 存储测试系统的软件设计与实现 18
4.1 微控制器的软件设计 18
4.2 上位机的软件设计 30
4.3 本章小结 34
5 存储测试系统的调试 34
5.1 A/D的调试 34
5.2 SPI1串口通信 39
5.3 USART1串口通信 41
5.4 数据的定位 42
5.5 整体调试 43
结 论 48
致 谢 49
参 考 文 献 50
1 引言
1.1 课题的背景与意义
随着现代科技的发展，科研和生产实践过程中测试对产品的成功研发或合格生产所产生的影响不断加大，测试环境也日趋复杂，这就要求测试者有一个既可靠、对被测对象影响小且精度又高的测试系统 ，以获得满足要求的的测试结果。测试系统是完成对产品测试的重要手段，它们的性能好坏直接关系到测试结果的精确程度，在对产品特别是军事方面的产品测试精度要求越来越高的前提下，作为一种有效的测试手段--存储测试技术应运而生。在“对被测对象影响小”的要求方面，存储测试系统相比于其他形式的测试系统有着本质上的优势。