基于STM32的信号存储测试系统设计(2)
作为与现代科学技术密切联系的现代存储测试技术，其思想源于通信领域的信息存储理论。随着现代信息技术的迅速发展，出现的大中规模CMOS存储器，使存储测试得以实现。而随着集成水平的提高，存储测试系统的性能不断完善，应用范围越来越宽，发挥的作用也越来越大。加之现代控制理论与技术的发展以及人工智能的研究成果在存储测试技术中的广泛应用，更为其发展注入了新的活力，从而使得存储测试系统的记录方式变得更加多样化：多通道、大容量、可编程，出现了自适应和智能化的存储测试系统，使存储测试系统的工作可靠性和使用灵活性得到大大提高。
所谓存储测试，是指在对被测对象无影响或影响在允许范围的条件下，在被测体内置入微型数据采集和存储测试仪，现场完成信息的快速采集和记忆，事后回收记录仪，再通过上位机再现测试信息的一种动态测试技术。而存储测试系统，则是一种基于数字化数据采集与存储测试技术、具有一定的抵抗被测量所在的恶劣环境能力且结构小型化、功耗低的一种测试系统[ ]。
目前对于存储测试系统的研究目标主要是低功耗、大存储容量、体积微型化、强抗冲击能力及高速存储等诸多方面，而这些功能的实现往往与系统所采用的控制芯片的性能有极大的关系。能否找到有助于上述目标实现的高性能芯片并将其运用到存储测试系统，同时又满足低成本的要求是达到上述研究目标的一条很好的路径。
1.2 国内外研究现状发展状况
1.3 主要工作和论文内容安排
基于STM32的存储测试系统是一种基于资源丰富的STM32微控制器和存储测试技术的用于模拟电压采集和存储的测试系统。它采用内触发的方法，控制STM32微控制器的ADC外设对满足触发条件的模拟信号进行数据采集， 并经由微控制器的SPI外设将采集的数据存储到外部高容量、低功耗存储器芯片中。待测试完毕后，回收该测试系统，连接到计算机上读出数据。本论文的设计目标是：根据系统要实现的功能和工作原理对系统各部分进行硬件和软件设计和实现，并对整个系统进行调试。
本文主要包含以下几方面的研究内容：
a)对系统进行总体设计，明确设计要求，在分析设计功能要求的基础上得出系统的总体设计方案，包括系统的结构框图，各部分功能概述等。
b)在总体方案的基础上，研究信号A/D转换部分、数据存储部分以及与上位机通讯接口部分等的硬件设计与实现，在完成整个电路的设计后，设计电路的印制电路板。
c)对系统的软件进行设计和实现，包括STM32微控制器部分的软件设计和串口通信中上位机部分的软件设计。其中STM32微控制器部分的软件设计又包括A/D转换部分、内触发部分、通过SPI串口与外部串行FLASH的数据交换部分，以及串口通讯中下位机部分的软件。
d)对系统各部分及整体的调试。
2 存储测试系统的总体设计
设计一个系统首先要有总体的设计思路，明确设计目标，然后针对所制定的目标进行系统总体方案的设计，总体设计方案是后续硬件电路设计和软件设计的基础。
基于STM32的存储测试系统，是一种基于STM32微控制器的数字化数据采集与存储测试技术相结合的产物，用以对经过模拟传感器处理后输出的电压信号进行采集存储，记录被测信号在满足一定条件后的变化。该系统是个独立的系统，可以放置到被测环境中，待试验结束后取出，跟计算机相连读出试验数据。其主要功能就是对经前端模拟传感器转换后得到的电压信号进行采集、转换、处理和存储，并通过接口把数据上传到计算机。