测定晶体物质结构的误差文献综述和参考文献
毕业论文关键词：XRD技术； XAFS技术； 晶体结构； 非晶体； X射线衍射
文献论述
[1]：马礼敦，X射线吸收光谱及发展
X射线吸收精细结构光谱是一种比较复杂的光谱，因其发生机理在不同能量段是不同的，故不同段有不同的用处，经历了一个数十年的发展过程。文章按其发展逐步深入地介绍了其各能量段的产生机理及由此可得的结构参数，择要介绍了它在一些领域的应用及在技术和应用等各方面的发展近况，还简要总结了它在我国的发展历程。
[2]:刘红超,郭常霖.研究固体微结构的X射线粉末衍射全谱图拟合方法,中国科学院上海硅酸盐研究所,上海
X射线粉末衍射全谱图拟合的Rietveld
方法是一种有效的晶体结构和微结构的分析方
法。文章介绍了X射线粉末衍射全谱图拟合的Rietveld方法的基本原理,综述了该方法中的线形分析、校正及其在晶体结构分析、微结构分析、相定量分析和衍射图谱指标化等方面应用的最新进展。文章最后介绍了在实验方案选取方面的新概念。粉末衍射全谱中包含着极其丰富的来自衍射体的信息,如晶体结构和微结构信息。利用粉末衍射数据进行结构分析的最大困难是数据的分辨率低。粉末衍射将三文倒易空间的信息压缩成一文衍射花样,衍射峰会出现重叠,特别是那些对结构分析有重要意义的小面间距的高角度数据重叠更为严重。图一显示了一个晶胞体积为 的三斜晶系材料在X射线衍射波长为 时,衍射峰数随2θ角的变化。在110°时,峰的蜜度是170个/度。即使对称性增加到四方晶系,或是采用2 的X射线,峰的数目也只减少1/8。这种严重的衍射峰重叠阻碍了粉末衍射在结构分析中的应用。论文网
[3]：梁敬魁，用x射线粉末衍射法测定晶体结构
测定的晶体结构方法很多,不同方法可以相互补充和验证。X射线衍射是测定物质相结
构最常用、最方便的一种方法。本文仅就多晶x射线衍射方法侧定材料的晶体结构作一简要的叙述。用于测定物质晶体结构的x射线粉末衍射的主要方法主要有以下几种：（1）德拜一谢乐照相法；（2）衍射仪法；（3）多丝正比室；（4）同步辐射源
4]:同昌悦，用x射线衍射方法测定金属晶体结构，陕西师范大学报，1988
本文阐述用X射线衍射测定晶体结构的原理、方法和步奏。给出了铜的晶格常数的测定结果。实验表明，用X射线衍射方法测定晶体结构简便可靠
[5]:徐玉林.徐明波.杨水金,XRD在无机合成中物相分析的应用,湖北师范学院
X射线衍射分析作为结构研究的一种重要技术手段，在无机合成和其他行业的研究中具有重要的应用。从基本的概念和原理出发，对XRD的基本理论进行简单的介绍，然后对X射线粉末衍射在无机合成中物相分析的应用研究进展进行综述，以便于更多的研究人员了解和掌握并合理应用XRD
[6]:马昌训.吴运新.郭俊康,X射线衍射法测量铝合金残余应力及误差分析
在介绍了X射线衍射法测量残余应力基本原理的基础上,以7075铝合金板材为实验对象,Photo公司的X射线衍射仪为实验仪器,采用不同的方向和衍射角对水域淬火后的 f7075铝板的表面残余应力进行测试,对测试结果进行处理并分析了应力产生的原因,提出了针对各种原因的解决方法。 发现在单一方向上测量结果的线性和相关性在一端较好，另一端偏差较大，而相反方向时则相反。实验结果表明，从两个方向测定可减少应力测试误差；当测定值2 的距离差平方和越小，自变量 的间距越大，测试点越多且直线性越好，则应力测定误差越小；较长的曝光时间和合适的表面处理可以提高测试精度。